オリンパス株式会社は６月１日より、「小型レーザ干渉計システム ＫＩＦ－２０－ＤＷ」の発売を開始すると発表しました。
「小型レーザ干渉計システム ＫＩＦ－２０－ＤＷ」は、デジカメなどに使われる高精度なレンズの品質検査の数値化を実現し、品質管理の効率化を図るシステムです。
デジタル一眼レフカメラ用のレンズなどをレーザ干渉計により検査する場合、品質基準である参照レンズと、検査するレンズにレーザを当て、発生する干渉縞により品質検査をします。
このような高精度な光学部品の品質検査は従来目視で行われていましたが、近年数値で評価する方向へと移行しています。
そのため、「小型レーザ干渉計システム ＫＩＦ－２０－ＤＷ」では、レーザ干渉計に収差数値評価と管理をする干渉縞数値化ソフト「ＫＩＦ－ＦＩＡ」を搭載したパソコンを標準で装備し、品質検査の数値化を実現させました。
測定結果合否判定機能の他に、数値や画面のデータをパソコンへ保存することができたり、印刷なども可能で、品質管理の効率化と簡易化を図ることができます。
また参照レンズにはアリミゾ式の新マウント機構を採用。着脱が簡単で、落下による破損も防ぎます。
他にも防塵対策や防振対策も施され、繊細な光学部品の品質管理に便利な仕様となっています。
多様化が進む高精度な光学部品の品質管理に便利な、この「小型レーザ干渉計システム ＫＩＦ－２０－ＤＷ」を、オリンパス株式会社は年間１００台を目標に、日本を含むアジア地域で販売する予定です。
